新着順:40/14303 記事一覧表示 | 《前のページ | 次のページ》

トラブルシュート

 投稿者:sava  投稿日:2018年 2月 8日(木)18時43分26秒
  通報
  通電中にテスターを当てて測定するということは実装上想定されていない限り
基本しないほうが良いと思います。(多数痛い目にあいました)
テスター用のクリップ等でハンズフリーで測定できる状況にしてから通電するのが良いかと。
半導体の損傷は回路接続中では判別しにくい場合が多く、デバッグに非常に手間がかかります。

 
》記事一覧表示

新着順:40/14303 《前のページ | 次のページ》
/14303